印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,對(duì)失效進(jìn)行全面的理化分析,確認(rèn)失效的內(nèi)在機(jī)理,從而有針對(duì)性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復(fù)雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致短路、開(kāi)路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報(bào)廢與系統(tǒng)宕機(jī),更常引發(fā)設(shè)計(jì)方、代工廠、封測(cè)廠與終端用戶間的責(zé)任爭(zhēng)議,帶來(lái)重大經(jīng)濟(jì)損失與信譽(yù)風(fēng)險(xiǎn)。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導(dǎo)致斷裂、開(kāi)裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛及重大經(jīng)濟(jì)損失。
金屬構(gòu)件服役環(huán)境日益苛刻,對(duì)材料性能和結(jié)構(gòu)可靠性提出更高要求。然而,設(shè)計(jì)缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當(dāng)使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂、氫脆、蠕變、磨損、過(guò)載變形等典型失效。
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焊點(diǎn)一推就掉?你以為是錫膏的錯(cuò)?不!可能是PCB“內(nèi)傷”在作祟!

發(fā)布時(shí)間: 2026-04-22 00:00
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“這批板子太邪門了,負(fù)極焊點(diǎn)像沒(méi)焊住一樣,輕輕一推就整個(gè)掉了。”這是一位硬件工程師最近遇到的麻煩事。

據(jù)產(chǎn)線反饋,某款遙控鑰匙的PCBA在客戶端使用時(shí),負(fù)極焊點(diǎn)頻繁脫落,焊接強(qiáng)度明顯不達(dá)標(biāo)。

問(wèn)題樣品(NG件)寄到實(shí)驗(yàn)室時(shí),工程師特意附上了同批次的正常樣品(OK件)和PCB光板,希望通過(guò)對(duì)比分析找出失效根因。

是錫膏問(wèn)題?回流爐溫曲線異常?還是PCB本身存在缺陷?

我們從失效現(xiàn)象入手,逐一排查。


1.外觀初檢:斷口異常平整

首先,對(duì)NG樣品的焊點(diǎn)脫落界面進(jìn)行外觀檢查。

結(jié)果顯示,開(kāi)裂界面異常平整,焊料與PCB焊盤之間幾乎沒(méi)有"拉扯"痕跡——就像兩塊從未真正粘合的材料,輕輕一碰便分離了。

焊點(diǎn)周圍還可見(jiàn)明顯的透明狀助焊劑殘留,說(shuō)明焊接過(guò)程并非"漏焊",而是焊了卻沒(méi)焊住。

典型外觀圖

典型外觀圖

作為對(duì)比,PCB光板表面未見(jiàn)明顯異常,僅憑外觀難以定位問(wèn)題根源。

典型外觀圖

典型外觀圖

初步判斷:焊點(diǎn)脫落并非由外力導(dǎo)致,而是焊接界面本身強(qiáng)度不足。


2.表面分析:脫落界面呈現(xiàn)"泥裂"形貌

采用掃描電子顯微鏡(SEM)對(duì)脫落界面進(jìn)行微觀形貌觀察。

NG-1 PCB端焊盤表面呈現(xiàn)典型的"泥裂"(mud crack)形貌——裂紋呈網(wǎng)狀分布,類似干涸河床。

NG-1 PCB端脫落界面形貌圖

NG-1 PCB端脫落界面形貌圖

能譜分析(EDS)結(jié)果表明,該區(qū)域主要成分為鎳(Ni)和磷(P),對(duì)應(yīng)化學(xué)鎳金(ENIG)工藝中的鎳磷合金層。

NG-1 PCB端脫落界面EDS譜圖

NG-1 PCB端脫落界面EDS譜圖

"泥裂"形貌是鎳層腐蝕的典型特征,表明鎳層在焊接前已受化學(xué)藥水過(guò)度侵蝕,表面產(chǎn)生微裂紋并導(dǎo)致界面結(jié)合強(qiáng)度下降。

NG-2 焊接件端脫落界面同樣平整,EDS顯示其主要成分為錫(Sn)、鉛(Pb)及少量鎳(Ni),未見(jiàn)明顯異常元素富集。

NG-2 PCB端脫落界面形貌及EDS譜圖

NG-2 PCB端脫落界面形貌及EDS譜圖

NG-2 PCB端脫落界面形貌及EDS譜圖

結(jié)論:焊點(diǎn)失效位置位于ENIG鎳層與焊料界面,PCB端鎳層存在明顯的鎳腐蝕(Nickel Corrosion)現(xiàn)象,為導(dǎo)致焊點(diǎn)強(qiáng)度不足的主要失效機(jī)理。


3.剖面分析:IMC與富磷層均超出控制限

為進(jìn)一步驗(yàn)證失效機(jī)理,對(duì)NG件與OK件進(jìn)行金相切片(Cross-section)分析,對(duì)比其微觀組織差異。

NG件剖面特征:

  • IMC層過(guò)厚:金屬間化合物(IMC)厚度達(dá)1.46~4.43μm,超出典型控制范圍(1.5~2μm),呈樹(shù)枝狀、塊狀粗大形貌,連續(xù)性差;

  • 富磷層明顯:鎳層與IMC界面間存在厚度413~596nm的富磷層(Ni?P),磷含量高達(dá)10.4~11.8wt%;

  • 鎳腐蝕嚴(yán)重:鎳層表面可見(jiàn)明顯腐蝕坑,局部貫穿整個(gè)鎳層。

NG件剖面圖片

NG件剖面圖片

NG件剖面圖片

OK件同樣存在隱患:

  • IMC厚度1.34~3.51μm,同樣超出控制上限;

  • 富磷層厚度與NG樣品處于同一量級(jí);

  • 鎳腐蝕現(xiàn)象同樣存在,局部貫穿鎳層。

OK件剖面圖片

OK件剖面圖片

結(jié)論:NG件與OK件在微觀結(jié)構(gòu)上無(wú)本質(zhì)差異,IMC過(guò)厚、富磷層偏厚及鎳腐蝕為批次共性缺陷。NG件的焊點(diǎn)脫落并非孤立失效,而是上述缺陷累積至臨界狀態(tài)的必然結(jié)果。

4.PCB質(zhì)量驗(yàn)證:鎳腐蝕為來(lái)料固有缺陷

為判定鎳腐蝕的產(chǎn)生階段(焊接過(guò)程 vs PCB來(lái)料),對(duì)NG件空焊盤及PCB光板進(jìn)行剝金(Au Stripping)處理,直接暴露鎳層表面進(jìn)行觀察。

結(jié)果如下:

  • NG件空焊盤:鎳層表面"泥裂"形貌嚴(yán)重,局部可見(jiàn)明顯開(kāi)裂;

NG件焊盤剝金后表面形貌

NG件焊盤剝金后表面形貌

  • PCB光板:鎳層表面同樣存在輕微"泥裂"痕跡。

PCB光板表面形貌

PCB光板表面形貌

結(jié)論:鎳腐蝕并非焊接過(guò)程引入,而是PCB在ENIG化學(xué)鎳金工藝階段即已形成的來(lái)料固有缺陷。


根本原因:

  1. 富磷層過(guò)厚:焊接時(shí),鎳層中的磷不參與反應(yīng),富集在界面形成脆性富磷層。過(guò)厚的富磷層與IMC之間變形能力差異大,極易成為開(kāi)裂起點(diǎn)。

  2. 鎳腐蝕嚴(yán)重:鎳層表面微裂紋和腐蝕坑導(dǎo)致IMC生長(zhǎng)不連續(xù),界面缺陷多,焊點(diǎn)強(qiáng)度大打折扣。

  3. IMC過(guò)厚:過(guò)厚的IMC本身脆性大,進(jìn)一步降低焊點(diǎn)抗剪切能力。

改進(jìn)建議:

  1. 加強(qiáng)PCB來(lái)料檢查:重點(diǎn)關(guān)注鎳層表面狀態(tài),避免鎳腐蝕板流入產(chǎn)線。

  2. 優(yōu)化回流焊爐溫曲線:控制熱輸入,避免IMC過(guò)度生長(zhǎng)。

  3. 推動(dòng)PCB供應(yīng)商改進(jìn)化金工藝:從源頭減少鎳腐蝕和富磷層厚度。

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