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序號(hào) |
試驗(yàn)項(xiàng)目 |
檢查內(nèi)容 |
預(yù)防的失效模式 |
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1 |
外部目檢 |
包封平整度、形變 |
外觀缺陷 |
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2 |
X射線檢查 |
器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)、引線、引線框架 |
結(jié)構(gòu)問(wèn)題、裝配工藝不良 |
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3 |
顆粒碰撞噪聲檢測(cè) |
可動(dòng)微粒 |
可動(dòng)顆粒引發(fā)隨機(jī)短路 |
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4 |
密封性測(cè)試 |
密封性 |
不良?xì)夥找鸬碾娦阅芷?/span> |
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5 |
內(nèi)部氣氛分析 |
封裝內(nèi)部氣氛類(lèi)型 |
腐蝕,參數(shù)漂移 |
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6 |
內(nèi)部目檢 |
芯片金屬化層、鈍化層、劃片、引線鍵合、芯片安裝、外來(lái)物質(zhì)等等 |
加工工藝不良引入的缺陷 |
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7 |
鍵合強(qiáng)度 |
內(nèi)引線鍵合強(qiáng)度 |
互連開(kāi)路、間歇失效 |
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8 |
掃描電鏡 |
類(lèi)似于“內(nèi)部目檢” |
加工工藝不良引入的缺陷 |
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9 |
芯片剪切強(qiáng)度 |
芯片的粘結(jié)強(qiáng)度 |
芯片脫離導(dǎo)致的開(kāi)路和散熱不良失效 |
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|?美信優(yōu)勢(shì)
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1.?專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì):擁有多名經(jīng)驗(yàn)豐富的檢測(cè)工程師和技術(shù)專(zhuān)家。
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2.?先進(jìn)設(shè)備:配備國(guó)際領(lǐng)先的檢測(cè)設(shè)備,確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
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3.?高效服務(wù):快速響應(yīng)客戶需求,提供一站式高效檢測(cè)服務(wù)。
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4.?權(quán)威認(rèn)證:實(shí)驗(yàn)室通過(guò)ISO/IEC 17025認(rèn)證,檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。