印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,對(duì)失效進(jìn)行全面的理化分析,確認(rèn)失效的內(nèi)在機(jī)理,從而有針對(duì)性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復(fù)雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致短路、開(kāi)路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報(bào)廢與系統(tǒng)宕機(jī),更常引發(fā)設(shè)計(jì)方、代工廠、封測(cè)廠與終端用戶(hù)間的責(zé)任爭(zhēng)議,帶來(lái)重大經(jīng)濟(jì)損失與信譽(yù)風(fēng)險(xiǎn)。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶(hù)對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導(dǎo)致斷裂、開(kāi)裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應(yīng)商與用戶(hù)間的責(zé)任糾紛及重大經(jīng)濟(jì)損失。
金屬構(gòu)件服役環(huán)境日益苛刻,對(duì)材料性能和結(jié)構(gòu)可靠性提出更高要求。然而,設(shè)計(jì)缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當(dāng)使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂、氫脆、蠕變、磨損、過(guò)載變形等典型失效。
美信檢測(cè)以海量失效數(shù)據(jù)庫(kù)構(gòu)建技術(shù)優(yōu)勢(shì),全譜系案例、復(fù)雜場(chǎng)景方案、頭部企業(yè)合作及體系化知識(shí)產(chǎn)權(quán),各展其能。憑借百萬(wàn)級(jí)失效解析積累,精準(zhǔn)洞察本質(zhì),讓檢測(cè)報(bào)告為客戶(hù)質(zhì)量升級(jí)提供有力支撐,實(shí)現(xiàn)失效歸零。
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熱浪來(lái)襲突破40℃!車(chē)用屏幕高溫后竟發(fā)生失效?!

發(fā)布時(shí)間: 2025-06-11 00:00
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在汽車(chē)電子產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)過(guò)程中,可靠性測(cè)試是確保產(chǎn)品能夠在各種極端環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

近期,全國(guó)多地持續(xù)高溫,在高溫高濕環(huán)境的嚴(yán)苛考驗(yàn)下,某款車(chē)用屏幕上出現(xiàn)了明顯的白點(diǎn)現(xiàn)象,這些白點(diǎn)不僅影響了屏幕的視覺(jué)效果,更對(duì)產(chǎn)品的整體性能構(gòu)成了威脅。

熱浪來(lái)襲突破40℃!車(chē)用屏幕高溫后竟發(fā)生失效?!

該屏幕表面貼有薄膜,薄膜與玻璃之間通過(guò)膠黏劑緊密結(jié)合,而薄膜本身則由AF層、AR層及TAC層等多層結(jié)構(gòu)組成,接下來(lái)將通過(guò)一系列專(zhuān)業(yè)檢測(cè),分析這一失效現(xiàn)象的根因。


1.光學(xué)分析

取NG屏幕局部對(duì)白點(diǎn)位置進(jìn)行光學(xué)觀察:白點(diǎn)大體可分為兩種形貌:一種比較發(fā)亮,一種比較發(fā)暗且對(duì)觀察區(qū)域利用紅色馬克筆進(jìn)行標(biāo)記。

光學(xué)分析

2.形貌分析

對(duì)紅色馬克筆標(biāo)記后的白點(diǎn)位置進(jìn)行形貌觀察:發(fā)亮的白點(diǎn)在電子成像下形貌比較清楚,而發(fā)暗的白點(diǎn)在電子成像下比較模糊。

形貌分析

對(duì)發(fā)亮白點(diǎn)進(jìn)行形貌觀察:發(fā)亮白點(diǎn)表面分布有密集的顆粒;放大白點(diǎn)與正常位置邊界,白點(diǎn)位置和正常位置有明顯的高度差,白點(diǎn)位置較低,正常位置較高,疑似白點(diǎn)位置被化學(xué)溶劑溶解。

形貌分析

對(duì)發(fā)暗白點(diǎn)位置進(jìn)行觀察,表面也有顆粒,表面涂層局部脫落;放大發(fā)暗白點(diǎn)與正常位置邊界,發(fā)暗白點(diǎn)表面粗糙,位置同樣比正常位置偏低,缺失了一部分。

形貌分析

3.元素分析

對(duì)NG屏幕元素進(jìn)行分析: 白點(diǎn)位置主要含有C、O、Cl,無(wú)明顯的Si元素;正常位置含有C、O、Cl,有明顯的Si; 發(fā)暗位置顆粒的主要元素為除了C、O、Si、Cl,還含有一點(diǎn)點(diǎn)Ca。

元素分析

4.切片分析

對(duì)比NG屏幕白點(diǎn)位置與正常位置截面形貌,正常位置邊界比較清晰且發(fā)白,AF層最外面還有一層;發(fā)白位置邊界不清晰,不明顯發(fā)白層。

切片分析

5.驗(yàn)證分析

另取 NG 屏幕局部,對(duì)撕下薄膜進(jìn)行光學(xué)觀察,薄膜表面殘留少量的膠,無(wú)論是從面還是原始面均能觀察到白點(diǎn)形貌。白點(diǎn)位置確認(rèn)是在薄膜層,且在表層。

驗(yàn)證分析





驗(yàn)證分析


6.驗(yàn)證分析

綜上所述,可得以下結(jié)論:

屏幕出現(xiàn)白點(diǎn)的原因是屏幕在高溫高濕環(huán)境下, 最外層(含硅層)出現(xiàn)不同程度的溶解,導(dǎo)致肉眼觀察呈現(xiàn)白點(diǎn)形貌。 這一失效機(jī)制不僅揭示了車(chē)用屏幕在極端環(huán)境下的脆弱性,也為后續(xù)的產(chǎn)品改進(jìn)提供了明確的方向。

此次高溫汽車(chē)電子屏幕白點(diǎn)失效分析不僅為技術(shù)人員提供了寶貴的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn),也促使我們重新審視車(chē)用電子屏幕在極端環(huán)境下的可靠性問(wèn)題。未來(lái),在開(kāi)發(fā)類(lèi)似產(chǎn)品時(shí),應(yīng)充分考慮環(huán)境因素對(duì)材料性能的影響,優(yōu)化材料選擇和工藝設(shè)計(jì),以提高產(chǎn)品的耐高溫性能和整體可靠性。

同時(shí),進(jìn)行充分的可靠性測(cè)試以提前預(yù)防潛在問(wèn)題,這對(duì)于企業(yè)而言具有舉足輕重的作用。可靠性測(cè)試不僅能夠顯著提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,降低企業(yè)的風(fēng)險(xiǎn)和損失,還能有效提升用戶(hù)體驗(yàn)和滿(mǎn)意度,進(jìn)而增強(qiáng)企業(yè)的競(jìng)爭(zhēng)力和市場(chǎng)地位。




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